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這種半導體將是芯片未來的關(guān)鍵

“找到與半導體良好的金屬接觸是一個與半導體本身一樣古老的問題,”斯坦福大學的研究員 Aravindh Kumar 說?!半S著每一種新的半導體被發(fā)現(xiàn)(在我們的案例中,原子級薄的半導體,如二硫化鉬 (MoS2),尋找良好接觸的問題再次浮出水面?!?/span>


Kumar 和他的同事研究人員 Katie Neilson 和 Kirstin Schauble 面臨的問題是尋找接觸電阻 (RC) 幾乎為零的金屬觸點。當這些材料集成到電路、LED 或太陽能電池中時,替代方案將浪費金屬-半導體結(jié)處的電壓和功率。


為了應對這一挑戰(zhàn),這些斯坦福大學的研究人員最近開發(fā)了一種在單層二維半導體上制造合金金屬觸點的新技術(shù)。二維半導體上改進的金屬-半導體接觸電阻,結(jié)合過渡金屬二硫化物 (TMD) 的光學特性,可能為下一代邏輯和存儲技術(shù)鋪平道路。

 

二維半導體晶體管的前景


據(jù)研究人員稱,二維半導體有望解決大尺寸晶體管中的通道控制問題:減小器件尺寸也會減小通道長度。界面缺陷(由于晶體管柵極溝道的小尺寸)導致載流子遷移率下降。


研究人員表示,MoS2等過渡金屬二硫化物 (TMD) 是亞 10nm 溝道晶體管的首選材料,因為它們在極薄的厚度下具有高遷移率。 

 

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基于單層MoS2通道的 FET 截面

 

研究人員在接受采訪時解釋了他們最新研究的優(yōu)先級: 


我們小組之前的一項研究表明,鎳 (Ni) 和鈀 (Pd) 等高熔點金屬 在沉積在單層 MoS2上時會造成損壞。作為一種精致的三原子厚材料,這會嚴重降低其電子性能。因此,我們和其他小組嘗試了低熔點金屬,例如銦(In)和錫(Sn),看看它們是否會減少對MoS2的損害。拉曼光譜表明它們實際上對單層 MoS2造成的損傷可以忽略不計。In 和 Sn 非常容易氧化,因此我們用金 (Au) 蓋住這些低熔點金屬觸點,發(fā)現(xiàn)這些觸點的性能非常好。

 

合金觸點的電氣特性


為了防止浪費電壓和功率,研究人員尋找了幾乎沒有接觸電阻 (RC) 的金屬觸點。目前,市場上RC最少的最著名觸點是銀/金(Ag/Au)、金(Au)和錫(Sn)。


斯坦福大學的研究人員成功地制造了 In/Au 和 Sn/Au 合金觸點,其接觸電阻分別低至 190 ohm.μm 和 270 ohm.μm。

 


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與單層MoS2的最佳報告接觸之間的 RC 比較

 

“我會說我們偶然想到了這種合金化技術(shù),”該團隊解釋說?!叭缓?,我們專注于合金化方面,因為這將確保這些觸點的熱穩(wěn)定性和化學穩(wěn)定性。例如,In/Au 合金的熔點將高于純 In,這使得它們對于晶體管制造中的任何后續(xù)加工都更加工業(yè)友好?!?/span>

 

爭取可擴展性


據(jù)該團隊稱,這項研究最具挑戰(zhàn)性的方面是讓這些二維半導體晶體管可靠且可重復地工作。研究人員指出:“我們不只是為一次性的‘英雄’設備——即表現(xiàn)非常好的單個晶體管而產(chǎn)生?!?“相反,我們希望展示整個芯片的接觸電阻在統(tǒng)計上相關(guān)的改進。因此,雖然我們在最初的實驗中擁有出色的產(chǎn)品,但成品率或成功率很低?!?/span>

 


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Sn/Au(左)和 In/Au(右)的ID與VGS的關(guān)系 

 

例如,研究人員假設,如果他們最初制造 100 個產(chǎn)品,那么其中只有兩三個會表現(xiàn)良好。經(jīng)過數(shù)月的反復試驗,該團隊試圖確定設備制造過程和測試方法,以確保他們創(chuàng)造出可重現(xiàn)的芯片范圍內(nèi)的結(jié)果。


在團隊研究的早期階段,他們只能在只有一到三個原子厚的二維通道的晶體管上實現(xiàn)良好的電氣性能。由于 2D TMD 本質(zhì)上是原子級薄,因此它們在低溫下生長以避免熔化通常用于芯片互連的金屬——這與晶體硅形成鮮明對比。 


雖然研究人員承認硅“仍然是高性能邏輯晶體管的黃金標準”,但他們對 2D TMD 晶體管的未來表示樂觀,這可能有助于在基極上堆疊邏輯和存儲器層硅 CMOS 層。 

 

2D 半導體:3D 集成的關(guān)鍵?


有許多跡象表明,摩爾定律的未來將由 3D 集成芯片形式的堆疊晶體管驅(qū)動,這可以緩解內(nèi)存帶寬問題或“內(nèi)存墻”。3D 集成芯片也可能徹底改變設計和布線方法。 


2D 半導體可能是創(chuàng)建此類 3D 集成芯片的關(guān)鍵解決方案,因為它們可以在低溫下輕松生長,同時保持電氣特性完好無損。由于高電阻觸點一直是采用二維半導體的障礙,因此這項研究對于大規(guī)模制造良好的工業(yè)級二維半導體可能具有開創(chuàng)性。

 


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圖為確定金屬和二維半導體之間接觸電阻的測試結(jié)構(gòu)

 

研究人員詳細說明,“如果或當高質(zhì)量、低溫生長可以擴展到 12 英寸晶圓時,TMD 將在堆疊在硅邏輯頂部的存儲器和計算層中發(fā)揮作用。它們還可以作為嵌入式 DRAM、SRAM 高速緩存中的訪問晶體管或 3D 閃存晶體管。”


他們補充說:“與硅晶體管相比,前兩個示例受益于更低的關(guān)態(tài)電流,因為單層 TMD 的能帶隙比硅大?!?/span>

 

2D TMD 的未來路線圖 


2019年,臺積電宣布將開始生產(chǎn)SiGe作為其5nm工藝的PMOS溝道材料。鍺的研究始于 2000 年代初,這項研究花了將近 20 年的時間才到達生產(chǎn)單位。2D 半導體研究始于 2011 年左右,自那時以來取得了巨大進展。


根據(jù)斯坦福大學的研究人員的說法,從 Ge 時間線推斷,2D TMD 最早可能會在 2030 年出現(xiàn)在消費電子產(chǎn)品中是公平的。但是,仍然存在一些開放的挑戰(zhàn),例如提高通道移動性和探索 P 型通道候選者。在這些問題得到解決之前,其他新型二維半導體材料將面臨激烈的競爭。


該團隊表示,摩爾定律的延續(xù)依賴于新材料、設備架構(gòu)和解決方案。“因為原子級薄的二維材料(如 MoS 2)是擴展摩爾定律的候選材料之一,因此必須優(yōu)化它們的觸點,以使其成為硅的合適替代品或補充品,”他們斷言?!敖档徒佑|電阻的解決方案,例如我們提出的合金觸點,可以實現(xiàn)更高的電流和更好的節(jié)能效果。”



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